Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

EBSD je technika založená na skenovacej elektrónovej mikroskopii a používa sa na charakterizáciu materiálov. Pri tejto technike elektrónový lúč skenuje povrch naklonenej kryštalickej vzorky, pričom dochádza k difrakcii. Difragované elektróny vytvárajú obrazec, ktorý je detegovaný a analyzovaný vhodným hardvérom a softvérom. Zo získaných dát sa dá určiť fáza a kryštalografická orientácia, vďaka čomu je možné efektívne zrekonštruovať mikroštruktúru materiálu.